QLP TESTER
QLP TESTER
申请
初审
注册
终止

商标详情

注册号 1694266 9类 申请日期 2000年05月22日
申请人名称(中文) 恩普乐股份有限公司
申请人地址(中文) 日本埼玉县川口市并木二丁目30番1号
申请人名称(英文) ENPLAS CORPORATION
申请人地址(英文) 30-1, NAMIKI 2-CHOME, KAWAGUCHI-SHI, SAITAMA-KEN, JAPAN
初审公告期号 802 注册公告期号 814
初审公告日期 2001年10月07日 注册公告日期 2002年01月07日
专用权日期 2012年01月07日至2022年01月06日 是否共用商标
后期指定日期 国际注册日期
优先权日期 代理人名称 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
指定颜色 商标类型 普通
商标状态
商品/服务列表
  • 液晶显示板用测试仪
  • 测量器械和仪器

商标免费咨询

李霞
商标资深顾问

专业咨询顾问,一对一服务,帮您解决商标专业答疑和建议!