IXI
IXI
申请
初审
注册
终止

商标详情

注册号 7575662 9类 申请日期 2009年07月28日
申请人名称(中文) 株式会社IHI检查计测
申请人地址(中文) 日本国东京都品川区大井1-22-13
申请人名称(英文) IHI INSPECTION & INSTRUMENTATION CO.,LTD.
申请人地址(英文) 22-13,OHI-1-CHOME,SHINAGAWA-KU,TOKYO 140-0014,JAPAN
初审公告期号 1240 注册公告期号 1252
初审公告日期 2010年11月20日 注册公告日期 2011年02月21日
专用权日期 2011年02月21日至2021年02月20日 是否共用商标
后期指定日期 国际注册日期
优先权日期 代理人名称 中国专利代理(香港)有限公司
指定颜色 商标类型 普通
商标状态
商品/服务列表
  • 工业用X光器械(非医用)
  • 工业用X光设备(非医用)
  • 海关用X光检查装置

商标免费咨询

李霞
商标资深顾问

专业咨询顾问,一对一服务,帮您解决商标专业答疑和建议!