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李霞
商标资深顾问
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| 注册号 | 7433659 | 42类 | 申请日期 | 2009年05月31日 |
| 申请人名称(中文) | 一测（上海）精密测量仪器贸易有限公司 | |||
| 申请人地址(中文) | 上海市徐汇区虹桥路808号41幢二层235室 | |||
| 申请人名称(英文) | ||||
| 申请人地址(英文) | ||||
| 初审公告期号 | 1231 | 注册公告期号 | 1243 | |
| 初审公告日期 | 2010年09月13日 | 注册公告日期 | 2010年12月14日 | |
| 专用权日期 | 2020年12月14日至2030年12月13日 | 是否共用商标 | 否 | |
| 后期指定日期 | 国际注册日期 | |||
| 优先权日期 | 代理人名称 | 上海金誉商标代理有限公司 | ||
| 指定颜色 | 商标类型 | 普通 | ||
| 商标状态 | ||||
| 商品/服务列表 |
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