ALTANA
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注册号 G784919 9类 申请日期 2002年10月31日
申请人名称(中文) ALTANA AG
申请人地址(中文) ABELSTRASSE 43,46483 WESEL(ALLEMAGNE)
申请人名称(英文) ALTANA AG
申请人地址(英文) ABELSTRASSE 43,46483 WESEL(ALLEMAGNE)
初审公告期号 注册公告期号
初审公告日期 注册公告日期
专用权日期 2002年06月07日至2012年06月07日 是否共用商标
后期指定日期 1970年01月01日 国际注册日期 2002年06月07日
优先权日期 代理人名称 国际局
指定颜色 商标类型 普通
商标状态
商品/服务列表
  • 用于提供、调节、清洁以及收回液体和气体的设备、仪器以及机器
  • 用于提供、调节、清洁以及收回液体和气体的设备、仪器以及机器
  • 用于提供、调节、清洁以及收回液体和气体的设备、仪器以及机器
  • 上述机械设备和仪器的安装,在安装和操作机械设备、仪器和机械以及操作物理和化学生产流程中对上述设备和仪器进行试运行,以及对上述产品进行维护和用户要求的调试、优化以及改进
  • 用于加固和/或生产半导体、硅、基片、锭料、太阳能电池、硅切片、晶片、复合半导体、半导体装置、功率半导体、发光二极管(发光二极管)、纳米电子机械产品(纳米电子机械)、薄膜工艺产品、传感器技术产品、碳纳米管(碳纳米管)以及热激活流程产品的机械设备、仪器、机械以及由上述构成的设施
  • 真空等离子涂层设备
  • 用于半导体、基片、晶片以及太阳能电池的机械加工和运输的机械设备、仪器、机械以及由上述构成的设施
  • 用于半导体、基片、晶片以及太阳能电池的机械加工和运输的机械设备、仪器、机械以及由上述构成的设施
  • 半导体和复合半导体
  • 用于上述机械设备、仪器以及机器的质量和流程控制的光学测量和测量设备
  • 用于上述机械设备、仪器以及机器的质量和流程控制的光学测量和测量设备
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