ACCRETECH
ACCRETECH
申请
初审
注册
终止

商标详情

注册号 1730396 9类 申请日期 2000年12月20日
申请人名称(中文) 株式会社东京精密
申请人地址(中文) 日本国东京都八王子市石川町2968-2
申请人名称(英文) KABUSHIKI KAISHA TOKYO SEIMITSU
申请人地址(英文) 2968-2,ISHIKAWA-MACHI,HACHIOJI-SHI,TOKYO,JAPAN
初审公告期号 811 注册公告期号 823
初审公告日期 2001年12月14日 注册公告日期 2002年03月14日
专用权日期 2012年03月14日至2022年03月13日 是否共用商标
后期指定日期 国际注册日期
优先权日期 代理人名称 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
指定颜色 商标类型 普通
商标状态
商品/服务列表
  • 测量器械和仪器
  • 即:精密测量器械和仪器
  • 半导体生产用的精密测量器械和仪器
  • 电动测量器械和仪器
  • 磁性测量器械和仪器
  • 即:探测仪
  • 半导体生产用探测仪
  • 磁性测量仪
  • 半导体生产用磁性测量仪
  • 电容测试仪
  • 半导体生产用电容测试仪
  • 光学测量器械和仪器
  • 半导体生产用光学测量器械和仪器
  • 电子测量设备及部件
  • 即:超声波深度探测仪
  • 半导体生产用超声波深度探测仪
  • 自动售货机

商标免费咨询

李霞
商标资深顾问

专业咨询顾问,一对一服务,帮您解决商标专业答疑和建议!