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商标详情

注册号 1804424 42类 申请日期 2000年12月20日
申请人名称(中文) 株式会社东京精密
申请人地址(中文) 日本国东京都八王子市石川町2968-2
申请人名称(英文) KABUSHIKI KAISHA TOKYO SEIMITSU
申请人地址(英文) 2968-2,ISHIKAWA-MACHI,HACHIOJI-SHI,TOKYO,JAPAN
初审公告期号 826 注册公告期号 838
初审公告日期 2002年04月07日 注册公告日期 2002年07月07日
专用权日期 2012年07月07日至2022年07月06日 是否共用商标
后期指定日期 国际注册日期
优先权日期 代理人名称 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
指定颜色 商标类型 普通
商标状态
商品/服务列表
  • 测量器械和仪器的出租租赁
  • 精密测量器械和仪器的出租租赁
  • 半导体生产过程中用的精密测量器械和仪器的出租租赁
  • 电动测量器械和仪器的出租租赁
  • 磁性测量器械和仪器的出租租赁
  • 探测仪的出租租赁
  • 半导体生产过程中用探测仪的出租租赁
  • 磁性测量仪的出租租赁
  • 半导体生产过程中用磁性测量仪的出租租赁
  • 电容测试仪的出租租赁
  • 半导体生产过程中用电容测试仪的出租租赁
  • 光学测量器械和仪器的出租租赁
  • 半导体生产过程中用光学测量器械和仪器的出租租赁
  • 电子测量设备及部件的出租租赁
  • 超声波深度探测仪的出租租赁
  • 半导体生产过程中用超声波深度探测仪的出租租赁
  • 自动售货机的出租租赁

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李霞
商标资深顾问

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