RETE商标_第42类商标详情-华唯商标查询网

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商标详情

注册号	G1496793	42类	申请日期	2019年11月07日
申请人名称(中文)	ELES SEMICONDUCTOR EQUIPMENT S.P.A.
申请人地址(中文)	Fraz. Pian di Porto - Zona Ind.le Bodoglie 148/1/Z I-06059 TODI (PG)
申请人名称(英文)	ELES SEMICONDUCTOR EQUIPMENT S.P.A.
申请人地址(英文)	Fraz. Pian di Porto - Zona Ind.le Bodoglie 148/1/Z I-06059 TODI (PG)

初审公告期号		注册公告期号
初审公告日期		注册公告日期
专用权日期		是否共用商标	否
后期指定日期	1970年01月01日	国际注册日期	2019年06月14日
优先权日期		代理人名称	国际局
指定颜色		商标类型	普通
商标状态
商品/服务列表	用于对电子器件、系统级电子器件、微电路、集成电路、封装集成电路和制造集成电路的半导体材料晶片进行测试、验证、校准(包括热测试、老化测试、可靠性测试、功能测试和参数测试)的机器、设备、系统和装置上述机器、设备、系统和装置的测试板和测试盒计算机，计算机外围设备，计算机程序用录制介质，用于控制上述测试、验证和校准的计算机程序电子器件、系统级电子器件、微电路、集成电路、封装集成电路和制造集成电路的半导体材料晶片的测试、验证、校准（包括热测试、老化测试、可靠性测试、功能测试和参数测试）领域的咨询、工程、研究、开发、分析、设计、规划和工程项目管理服务为第三方提供的、对电子器件、系统级电子器件、微电路、集成电路、封装集成电路和制造集成电路的半导体材料晶片进行测试、验证、校准（包括热测试、老化测试、可靠性测试、功能测试和参数测试）的服务为第三方提供的、对电子器件、系统级电子器件、微电路、集成电路、封装集成电路和制造集成电路的半导体材料晶片进行测试、验证、校准（包括热测试、老化测试、可靠性测试、功能测试和参数测试）的服务电子器件、系统级电子器件、微电路、集成电路、封装集成电路和制造集成电路的半导体材料晶片的测试、验证、校准（包括热测试、老化测试、可靠性测试、功能测试和参数测试）领域的咨询、工程、研究、开发、分析、设计、规划和工程项目管理服务机器、设备、系统、装置、测试板、测试盒、计算机、计算机程序用录制介质以及用于控制上述服务的计算机程序的出租、租用和租赁电子器件、系统级电子器件、微电路、集成电路、封装集成电路和制造集成电路的半导体材料晶片的测试、验证、校准（包括热测试、老化测试、可靠性测试、功能测试和参数测试）领域的咨询、工程、研究、开发、分析、设计、规划和工程项目管理服务为第三方提供的、对电子器件、系统级电子器件、微电路、集成电路、封装集成电路和制造集成电路的半导体材料晶片进行测试、验证、校准（包括热测试、老化测试、可靠性测试、功能测试和参数测试）的服务

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李霞

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